藍(lán)光三維掃描,條紋投影的光學(xué)測(cè)量方法有什么
責(zé)任編輯:傳說(shuō)的落葉 時(shí)間:2018-12-24 09:16
[導(dǎo)讀]蔡司白皮書:藍(lán)光三維掃描,條紋投影的光學(xué)測(cè)量方法有什么優(yōu)勢(shì)?
蔡司發(fā)布了一份藍(lán)光掃描白皮書,本份白皮書介紹最新技術(shù): 德國(guó)ZEISS光電技術(shù)有限公司利用光柵投影原理研發(fā)生產(chǎn)的COMET系列三維光學(xué)掃描系統(tǒng)。
白皮書內(nèi)容包括:
白光光柵投影技術(shù)的工作原理。
光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)為用戶帶來(lái)了什么改變?
光學(xué)三維數(shù)字化量測(cè)技術(shù)的突出優(yōu)勢(shì)。
三維光學(xué)掃描系統(tǒng)測(cè)量速度到底有多快?
三維光學(xué)掃描系統(tǒng)的掃描質(zhì)量與精度值得期待!
三維光學(xué)掃描系統(tǒng)的應(yīng)用領(lǐng)域有哪些?
如何避開三維光學(xué)掃描系統(tǒng)的局限性,獲得最佳掃描結(jié)果。
實(shí)際應(yīng)用故事 。
創(chuàng)新的三維光學(xué)量測(cè)系統(tǒng)操作簡(jiǎn)便, 用途廣泛,可大大簡(jiǎn)化工作流程,提高質(zhì)量控制效率。使用三維光學(xué)掃描系統(tǒng)對(duì)被測(cè)件表面進(jìn)行整體的三維數(shù)據(jù)采集,獲取表面細(xì)節(jié)部位的高精度三維數(shù)據(jù)。您可將之應(yīng)用于質(zhì)量控制-掃描數(shù)據(jù)與CAD數(shù)模進(jìn)行比對(duì);亦可用于逆向工程-快速獲取設(shè)計(jì)樣尺寸,生成CAD數(shù)模, 三維光學(xué)掃描系統(tǒng)讓您的業(yè)務(wù)更上一層樓!
光學(xué)非接觸式測(cè)量方法確保對(duì)易變形工件, 如泡沫件等,進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量,避免了傳統(tǒng)的三坐標(biāo)等(CMM) 接觸式測(cè)量方法因接觸被測(cè)件引起工件變形而影響測(cè)量結(jié)果。利用先進(jìn)的光學(xué)非接觸式測(cè)量技術(shù),您能更好的進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量控制,使自己產(chǎn)品的質(zhì)量勝人一籌,在市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中贏得決定性的優(yōu)勢(shì)。請(qǐng)告訴您的合作伙伴和您的客戶,您使用最新科技的三維光學(xué)掃描技術(shù)進(jìn)行高效率,高質(zhì)量的產(chǎn)品數(shù)據(jù)采集與產(chǎn)品質(zhì)量控制;將創(chuàng)新的三維光學(xué)掃描設(shè)備提供給您的操作人員,讓他們使用這款最新科技產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量控制工作,提高工作效率,減少工作壓力,提高工作滿意度!
申請(qǐng)白皮書:https://www.wenjuan.com/s/fARzi2/
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